Спор о качестве поставленной партии электронных компонентов для электронной аппаратуры различного назначения требовал проверить наличие возможных дефектов, их эксплуатационное либо производственное происхождение и устранимость. Эксперты сопоставляли параметры каждого канала оптоизоляторов с минимальными уровнями из технической документации изготовителя. Комплексная электротехническая, инженерно-техническая экспертиза охватывала внешний осмотр, инструментальные измерения и оценку ремонтопригодности корпуса.
Работу организовали как комплексную экспертизу с участием экспертов по электронно-вычислительной технике и инженерно-техническим экспертизам. Представленные микросхемы осмотрели в Москве, затем эксперты выехали в метрологическую лабораторию для проверки электрических параметров. Они работали с выборкой из поставочной партии и отдельно измеряли оба канала каждого отобранного изделия. Измерения выполняли по схеме, приложенной к техническим материалам.
Проверку качества микросхем построили как последовательность операций, при которой каждому результату измерения соответствовал конкретный экземпляр и канал. Эксперты фиксировали ход работы фотографиями и таблицей показаний. Перед подключением каждого изделия они осматривали корпус и выводы, затем связывали показания с его порядковым номером. В таблице каждому каналу отвели отдельную строку. Основные приёмы распределили так:
- Внешний осмотр — проверка следов монтажа и предшествующего использования компонентов.
- Выборка — последовательный отбор 77 микросхем из партии объёмом 250 изделий.
- Измерительный стенд — подача регулируемого напряжения на входы двух оптических каналов.
- Инструментальные измерения — контроль входного тока и выходного напряжения каждого канала.
- Сопоставление — сравнение показаний 76 экземпляров с уровнями из документации изготовителя.
Стенд собрали по принципиальной электрической схеме с источником питания Б5-71, вольтамперметром М2044, мультиметром FLUKE 177 и антистатическим браслетом. Источник задавал напряжение, вольтамперметр контролировал ток, а мультиметр снимал напряжение на выходах. Для двух каналов цикл повторяли отдельно в заданной последовательности. Защиту электронных компонентов при сборке и измерениях организовали по следующим источникам:
- ГОСТ Р 53734.5.1-2009 (МЭК 61340-5-1:2007) Электростатика. Защита электронных устройств от электростатических явлений. Общие требования.
- ГОСТ Р 53734.5.2-2009 (МЭК 61340-5-2:2007) Электростатика. Защита электронных устройств от электростатических явлений. Руководство по применению.
Ремонтопригодность микросхем эксперты оценивали по устройству интегральной микросхемы. Они проверяли, допускает ли герметичный корпус доступ к кристаллу, внутренним соединениям и выводам. Затем эксперты сопоставляли устройство каждого элемента с его функцией и проверяли возможные способы восстановления электрических параметров изделия. Отдельно рассматривали связь между доступом к внутренним компонентам и ремонтопригодностью герметичного корпуса.